MAF-MH

采用不接触背面方式,将晶圆的颗粒物污染控制在最小。一款适用φ300mm晶圆的机械嵌校准器。


产品特点

 

  • 也可以支持化合物半导体及玻璃晶圆(请另行咨询)。
  • 只接触晶圆的边缘,实现了清洁定位的概念。
  • 自动识别晶圆的V形切口及定向平面,省略了上级控制器的设定。
  • 内置型控制器的紧凑设计。

 

产品规格

适用对象

φ300mm

SEMI/JEIDA规格晶片

※使用玻璃晶片等特殊晶片的话,请事先与我们商谈。

处理时间

8.0秒以内(不换手时)

20.0秒以内(换手时)

处理精度

θ:±0.2°以内(3σ)

处理范围

±1mm以内

(晶片偏心量)

晶片保持方法 夹持边缘
晶片保持确认 photo micro sensor
通信规格

RS-232C(串行通信)

适用范围

电源:DC24V±10% 5A 1系统

DRY AIR: φ6mm 0.35MPa~0.4MPa 1系統

重量 本体:約8kg

关于产品的咨询

product contact_1

  • contact smartphone notice
  • contact smartphone tel
  • contact smartphone fax
  • contact smartphone mail